作者:-1????發(fā)布時(shí)間:2023-05-16 14:03 ????瀏覽次數(shù) :
在PCIe NVMe SSD控制器或者固態(tài)盤研發(fā)以及集成測(cè)試過(guò)程中,研發(fā)/測(cè)試工程師需要最大化地暴露產(chǎn)品的各種性能、功能、可靠性、兼容性等問題,以便在實(shí)驗(yàn)室階段解決這些問題。
下面我們結(jié)合NVMe SSD權(quán)威組織UNH IOL官方網(wǎng)站指定的三個(gè)測(cè)試/分析工具給大家做一個(gè)測(cè)試技術(shù)普及,這些產(chǎn)品和工具出現(xiàn)在UNH IOL組織的Plugfest就會(huì)碰到這些分析和測(cè)試工具,這些產(chǎn)品是NVMe SSD業(yè)界使用最廣泛的工具。