作者:-1????發(fā)布時(shí)間:2023-03-26 14:41 ????瀏覽次數(shù) :
5.1 Wear-leveling Simulation
我們運(yùn)行IOzone(由于其高cleaning率)來研究上述的耗損均衡算法。對(duì)于我們的實(shí)驗(yàn),我們將閃存塊的壽命從100K減少到50個(gè)循環(huán),以便 ageRariance(設(shè)置為20%)和 retirementAge(設(shè)置為85%)閾值變得相關(guān)。表7和 表 8 介紹了3種不同技術(shù)的結(jié)果:貪婪算法,貪婪的cleaning速率限制磨損的塊,貪婪的cleaning速率限制和冷數(shù)據(jù)遷移。雖然平均塊壽命在各種技術(shù)中是相似的,但調(diào)用遷移會(huì)在運(yùn)行結(jié)束時(shí)提供更小的剩余塊壽命標(biāo)準(zhǔn)偏差。此外,通過遷移,沒有塊到期(例如,超過擦除限制的塊)。由于簡(jiǎn)單的貪婪技術(shù)不執(zhí)行任何速率限制,因此當(dāng)使用速率限制時(shí),與沒有速率限制相比,更少的塊到期。表 8列出了平均值周圍閃存塊壽命的分布。可以看出,冷數(shù)據(jù)遷移提供了比其他選項(xiàng)更好的聚類。
跨塊遷移冷頁(yè)的成本會(huì)產(chǎn)生與工作負(fù)載相關(guān)的性能成本。我們對(duì)IOzone的損耗均衡模擬涉及每個(gè)package7902次遷移,這增加了4.7%的平均I / O操作延遲開銷。